СОЛВЕР Nano
AFM - Raman - SNOM
Modular AFM
Automated AFM
Practical AFM
Practical AFM
 

LIFE

Fully automated AFM integrated
with Inverted Light Microscope
for biological research
Bio AFM LIFE

General information

NTEGRA Life is Atomic Force Microscope with XYZ scanning measuring head compatible with inverted optical microscope with NA 0.55 condensers. It is used for biological and medical researches in physiological conditions.

Additional information

Fulfill a special form to request additional information.
AFM INTEGRA Life is intended for biological and medical researche in the conditions close to physiological.
Usage of INTEGRA Life allows to carry out transition with cellular to molecular level of researches by ASM methods.
  Wide functionality of the AFM INTEGRA Life is provided by the automatic adjustment of OBD system, by the scanners (XY or Z) built in the motorized stage, by possibility of positioning of a measuring head relative to sample.
Technical information
  1. LIFE, Information brochure   (1.71 Mb)
 

Применения

ИНТЕГРА Лайф незаменима в тех научных областях, где нужно исследовать объекты с нанометровым разрешением (методами АСМ) и одновременно наблюдать их с помощью оптических методов. Предназначена для применения в таких областях как: биомедицина, биотехнология, экология, нано- и биобезопасность, фармакология, пищевая промышленность и др.

Уникальные возможности НаноЛаборатории ИНТЕГРА Лайф позволяют исследовать такие биологические объекты и явления как:

  •  Мембраны клеток животных и человека
  •  Клеточные стенки (растений, бактерий, грибов)
  •  Взаимодействия цитоскелета с поверхностью клетки
  •  Выделенные органеллы и субклеточные структуры (хлоропласты, митохондрии, элементы цитоскелета и пр.)
  •  Взаимодействие макромолекулярных комплексов в системах in vitro

ДНК. Размер скана 0.65x0.65 мкм


 

 Бактерия E. coli.
Размер скана: 15x15 мкм.

              
Бактерия E. coli.
12х12 мкм АСМ изображения
на фоне  50x50 мкм
флуоресцентного изображения.
 

Specifications

Measuring modes and techniques

In ambient air
AFM (contact and amplitude modulation), AFM spectroscopy, AFM lithography (force, current, voltage), Raster Spring Imaging, Lateral Force Microscopy, Force Modulation Microscopy, Scanning Spreading Resistance Microscopy, Piezoresponce Force Microscopy and Switching Spectroscopy, EFM, Kelvin Probe Force Microscopy, MFM, STM (microscopy, spectroscopy, lithography).

In liquid
AFM (contact and amplitude modulation), AFM spectroscopy, AFM force lithography, Raster Spring Imaging, Lateral Force Microscopy, Force Modulation Microscopy.

More info
 

Contact

Fulfill a special form to request additional information.

 
 
 
Copyright © 2015 - 2017, NT-MDT SI